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主營(yíng)產(chǎn)品:X射線熒光光譜儀

關(guān)于X射線熒光光譜儀,以下信息很實(shí)用

點(diǎn)擊次數(shù):1456  更新時(shí)間:2020-04-17
   X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好,測(cè)量速度快,靈敏度高的特點(diǎn)。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結(jié)果,結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平,分析時(shí)間短。
  X射線熒光光譜儀的功能:
  XRF是基于X射線的一種分析技術(shù),當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時(shí),如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能,將該軌道電子逐出,形成一個(gè)空穴使原子處于激發(fā)態(tài),由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定,外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài),躍遷時(shí)釋放出的能量以輻射的形式放出便產(chǎn)生X熒光。
  X熒光具有特征的波長(zhǎng),對(duì)應(yīng)的即是特征的能量,通過(guò)對(duì)光子的特征波長(zhǎng)進(jìn)行辨識(shí),XRF能實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的定性分析,通過(guò)探測(cè)特征波長(zhǎng)的X射線光子的強(qiáng)度,實(shí)現(xiàn)元素的定量和半定量分析。
  X射線熒光光譜儀分類(lèi):
  X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀,分辨率較低的便攜式光譜儀,和介于兩者之間的臺(tái)式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導(dǎo)體探測(cè)器,如Si(Li)和高純鍺探測(cè)器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器為探測(cè)器,它們不需要液氮冷卻。近年來(lái),采用電致冷的半導(dǎo)體探測(cè)器,高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步輻射光激發(fā)X射線熒光光譜、質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜、放射性同位素激發(fā)X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜、微區(qū)X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。
  X射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu):
  1、分光系統(tǒng):對(duì)來(lái)自樣品待測(cè)元素發(fā)出的特征熒光X射線進(jìn)行分辨(主要為分光晶體);
  2、激發(fā)系統(tǒng):主要部件為X射線管,可以發(fā)出原級(jí)X射線(一次X射線),用于照射樣品激發(fā)熒光X射線;
  3、儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng):處理探測(cè)器信號(hào),給出分析結(jié)果;
  4、探測(cè)系統(tǒng):對(duì)樣品待測(cè)元素的特征熒光X射線進(jìn)行強(qiáng)度探測(cè)。
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